美國GE超聲波探傷儀探頭B2S ISO 500036

產(chǎn)品簡介
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Name: 美國GE超聲波探傷儀探頭B2S ISO 500036
Brand: 貝克休斯
Price: 4500 CNY
Availability: InStock

產(chǎn)品型號：

更新時間：2026-05-14

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

訪問量：424

產(chǎn)品咨詢 13564807393

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

探傷儀-1

紫外線燈超聲波泄漏探測儀磁粉探傷儀

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美國GE超聲波探傷儀探頭B2S ISO 500036

接觸法直探頭,帶保護膜

應(yīng)用

b2s-ISO探頭 b2s探頭

• 一般檢測目的, 簡單形狀的大零件

• 鍛件, 鑄件

• 板材, 棒材, 方型材

• 容器, 機器零件, 殼體

• 高溫檢測時帶延遲塊

性能特征

• 歐款有可更換膜:

- 在不平整和曲面上增進耦合

- 延長探頭壽命

- 適于DGS缺陷評定

- 可連接高溫延遲塊

- Lemo 1(B S) 或 Lemo 00 (MB S) 連接端口, 標準為側(cè)裝, 頂裝可選

• 美款有三種類型的保護:

- 膜可以在不平整和曲面上增進耦合.

- 帽定期更換可*期限延長探頭壽命

- 高溫延遲塊可以實現(xiàn) 00°F ( 00°C)表面檢測.

- BNC 連接端口, 頂裝或側(cè)裝

帶保護膜探頭—歐洲規(guī)格

B S 和 MB S 型

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜 b2s-b2s-b2s

美國GE超聲波探傷儀探頭B2S ISO 500036

奧林巴斯無損檢測解決方案提供全新的檢測技術(shù)。我們由各類超聲探傷儀、測厚儀、探頭等產(chǎn)品組合而成的各種解決方案也包含您所需要的軟件，有助于滿足您全面的檢測要求。我們的產(chǎn)品可用于探測和表征一系列材料（例如金屬、塑料和陶瓷）中的缺陷，有助于您優(yōu)先考慮性能和安全。我們的無損檢測解決方案和設(shè)備用途廣泛，具有多種測量功能，可助力您進行必要的檢測。我們還致力于研發(fā)出易于使用的軟件。如果您希望了解有關(guān)我們產(chǎn)品的更多信息，您可以觀看我們網(wǎng)站上的輔導(dǎo)視頻，聆聽專家對NDT設(shè)備的概括介紹。

奧林巴斯種類齊全的便攜式超聲探傷儀（UT）具有探測不連續(xù)性及其他缺陷的*能力。這些超聲探傷儀配備各種軟件、測量功能以及專用于特定應(yīng)用的選項，可以完成各種缺陷探測應(yīng)用。這些應(yīng)用包括定位和定量焊縫、鍛件、渦輪和其他結(jié)構(gòu)性部件中的隱藏裂紋、空隙、脫粘以及類似的不連續(xù)性缺陷。

奧林巴斯是世界的測厚儀生產(chǎn)企業(yè)，其所生產(chǎn)的測厚儀可以對幾乎任何材料進行準確的測量。這些測厚儀功能齊備，具有很高的測量性能。超聲測厚儀可以對大多數(shù)材料進行測量，其中包括塑料、金屬、金屬復(fù)合材料、橡膠及內(nèi)部腐蝕的材料。

美國GE超聲波探傷儀探頭B2S ISO 500036

無損檢測（NDT）工業(yè)掃查器可用于各種工業(yè)應(yīng)用中，以提高檢測速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量和檢出率（POD）。奧林巴斯提供電動和半自動（手動）型單軸或雙軸（XY）工業(yè)掃查器。奧林巴斯的焊縫檢測掃查器可以裝配多個探頭，從而可以完成多技術(shù)檢測，并提高檢出率（POD）。

奧林巴斯的腐蝕檢測掃查器可與HydroFORM掃查器、柔性相控陣探頭，或雙晶線性陣列探頭配套使用，對管道或平坦的表面進行檢測，而奧林巴斯的各種用于航空航天業(yè)的掃查器則可以被穩(wěn)固地放置在復(fù)合材料表面上進行檢測。為了*用戶的檢測解決方案，奧林巴斯還提供多種相控陣探頭和楔塊型號，以及各種配件，如：脈沖發(fā)生器接收器的前置放大器、適配器和水泵等。

奧林巴斯提供各種掃查器，以滿足用戶在制造或維護過程中對焊縫檢測的需要。我們可為從小徑管道到平板的各種工件的檢測提供解決方案，某些掃查器可以安裝多個探頭，以覆蓋焊縫的整個體積。無論用戶選擇的是電動型還是手動型掃查器，都會感受到這些掃查器的普適性、可靠性及可重復(fù)性。

Part Number	Item Number	Probe Type	Nominal Refracted Beam Angle (in Steel)	Recommended Sweep (°)	Probe Orientation	Wedge Dimensions (mm)
Part Number	Item Number	Probe Type	Nominal Refracted Beam Angle (in Steel)	Recommended Sweep (°)	Probe Orientation	L	W	W*	H
SA00-0L	U8720002	A00	0° LW	?30 to 30	Normal	16	12	N/A	12
SA00-N45S	U8720006	A00	45° SW	30 to 60	Normal	21	12	N/A	13
SA00-N60S	U8720008	A00	60° SW	45 to 70	Normal	21	14	N/A	13
SA0-0L	U8720004	A0	0° LW	?30 to 30	Normal	23	12	N/A	11
SA0-N45S	U8720012	A0	45° SW	30 to 60	Normal	32	18	N/A	20
SA0-N60S	U8720014	A0	60° SW	45 to 70	Normal	32	18	N/A	21
SA1-0L	U8720016	A1	0° LW	?30 to 30	Normal	29	30	10	20
SA1-N60S	U8720036	A1	60° SW	30 to 70	Normal	30	30	40	16
SA1-N60L	U8720032	A1	60° LW	45 to 70	Normal	28	30	40	21
SA1-L45S	U8720024	A1	45° SW	?30 to 30	Lateral	45	35	45	27
SA2-0L	U8720082	A2	0° LW	?30 to 30	Normal	65	30	40	20
SA2-N60L	U8720135	A2	60° LW	30 to 70	Normal	79	30	40	50
SA2-N55S	U8720096	A2	55° SW	30 to 70	Normal	69	30	40	43
SA3-0L	U8720139	A3	0° LW	?30 to 30	Normal	38	37	50	20
SA3-N45S	U8720143	A3	45° SW	30 to 60	Normal	55	37	50	30
SA3-N45L	U8720141	A3	45° LW	30 to 60	Normal	55	37	50	49
SA3-N60S	U8720147	A3	60° SW	45 to 70	Normal	58	37	50	32
SA3-N60L	U8720145	A3	60° LW	45 to 70	Normal	53	37	50	40
SA4-0L	U8720149	A4	0° LW	?30 to 30	Normal	59	47	55	20
SA4-N45S	U8720153	A4	45° SW	30 to 60	Normal	90	47	55	51
SA4-N45L	U8720151	A4	45° LW	30 to 60	Normal	88	47	55	85
SA4-N60S	U8720157	A4	60° SW	45 to 70	Normal	86	47	55	45
SA4-N60L	U8720155	A4	60° LW	45 to 70	Normal	83	47	55	68
SA5-0L	U8720159	A5	0° LW	?30 to 30	Normal	38	45	55	20
SA5-N45S	U8720163	A5	45° SW	30 to 60	Normal	57	47	55	37
SA5-N60S	U8720169	A5	60° SW	45 to 70	Normal	46	43	55	25
SA5-N60L	U8720167	A5	60° LW	45 to 70	Normal	39	50	55	41
SA10-0L	U8720544	A10	0° LW	?30 to 30	Normal	25	23	40	20
SA10-N55S	U8720545	A10	55° SW	30 to 70	Normal	23	23	40	14
SA10-N60L	U8720546	A10	60° LW	30 to 70	Normal	26	23	40	30
SA11-0L	U8720553	A11	0° LW	?30 to 30	Normal	35	23	40	23
SA11-N55S	U8720547	A11	55° SW	30 to 70	Normal	41	23	40	29
SA11-N60L	U8720548	A11	60° LW	30 to 70	Normal	43	23	40	53
SA12-0L	U8720549	A12	0° LW	?30 to 30	Normal	62	23	40	20
SA12-N55S	U8720550	A12	55° SW	30 to 70	Normal	58	23	40	23
SA12-N60L	U8720551	A12	60° LW	30 to 70	Normal	61	23	40	53
SA14-0L	U8721079	A14	0° LW	?30 to 30	Normal	80	23	40	20
SA14-N55S	U8720997	A14	55° SW	30 to 70	Normal	96	23	40	49
SA15-N60S	U8721094	A15	60° LW	35 to 70	Normal	18	22	N/A	12
SA16-N55S-IHC	U8721469	A16	55° SW	30 to 70	Normal	85	31	40	44
SAWS1-N60S	U8720552	AWS1	60° SW	45 to 70	Normal	45	38	N/A	32
SAWS1-0L	U8720706	AWS1	0° LW	-30 to 30	Normal	38	38	N/A	40
SNW1-0L	U8700264	NW1	0° LW	N/A	Normal	66	32	32	22
SNW1-0L-WP5	U8720637	NW1	0° LW	N/A	Normal	66	32	32	22
SNW1-0L-IHC-C	U8700266	NW1	0° LW	N/A	Normal	66	32	32	22
SNW2-0L	U8720924	NW2	0° LW	N/A	Normal	26	32	32	22
SNW2-0L-WP5	U8720596	NW2	0° LW	N/A	Normal	26	32	32	22
SNW3-0L	U8721184	NW3	0° LW	N/A	Normal	130	32	32	22
SNW3-0L-WP5	U8721219	NW3	0° LW	N/A	Normal	130	32	32	22
SPWZ1-0L	U8700336	PWZ1	0° LW	-30 to 30	Normal	75	30	40	20
SPWZ1-N55S REV-C	U8700336	PWZ1	55° SW	30 to 70	Normal	87	30	40	45
SPWZ3-0L	U8700361	PWZ3	0° LW	-30 to 30	Normal	40	30	40	20
SPWZ3-N55S	U8700365	PWZ3	55° SW	30 to 70	Normal	65	30	40	38
SPWZ3-N60L	U8721399	PWZ3	60° LW	45 to 70	Normal	64	30	40	35
*: Width with IHC wedge option

奧林巴斯超聲波相控陣楔塊SA31-N55S-IHC

用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊具有特殊的半徑和角度，其半徑可調(diào)以適用于各種被測工件。這些楔塊的設(shè)計目的是用于手動掃查，并配合袖珍輪式編碼器一起使用。

Part Number	Item Number	Probe Type	Angle of the Inspected Part (o)	Radius Range mm (in.)	Inspection Type
SR1-I81-ADJ	U8720659	R1	81	4 to 14 (0.16 to 0.55)	ID
SR1-I90-ADJ	U8720638	R1	90	3 to 14 (0.12 to 0.55)	ID
SR1-I98-ADJ	U8720660	R1	98	3 to 13 (0.12 to 0.51)	ID
SR4-IE90-ADJ	U8720608	R4	90	3 to 20 (0.12 to 0.79)	OD/ID

奧林巴斯超聲波相控陣楔塊SNW1-0L-IHC

奧林巴斯 OLYMPUS OmniScan SX

相控陣超聲波探傷儀

型號：OmniScan sx

更小巧、更輕便的OmniScan儀器

產(chǎn)品特征

OmniScan SX 相控陣超聲波探傷儀

Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了研制的OmniScan SX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對檢測要求較低的應(yīng)用，這款儀器操作極為方便。OmniScan SX有兩種型號：SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元，與僅具有UT通道的SX UT一樣，也配備了一個常規(guī)UT通道，可以進行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測。與OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量輕33 %，體積小50 %，具有OmniScan產(chǎn)品的更為輕巧便攜的性能。

設(shè)置

可以在NDT SetupBuilder中為檢測進行設(shè)置，然后再通過SD卡或USB鑰匙，將設(shè)置直接導(dǎo)入到OmniScan SX 儀器。進行采集之前，只需在儀器中進行幾項基本操作，如：設(shè)置閘門和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個特性，用戶也可以在儀器中非常方便地創(chuàng)建設(shè)置：

自動探頭識別

單步驟、預(yù)先配置應(yīng)用的向?qū)?/p>

焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬

校準

為完成一項符合規(guī)范的檢測，儀器中的校準向?qū)Э梢员ＷC每組中的每個聚焦法則都直接等同于一個單通道常規(guī)探傷儀。用戶在完成所要求的校準過程中，會得到向?qū)У姆植街笇?dǎo)。所校準的項目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器?，F(xiàn)在，儀器可以自動完成TOFD PCS校準與直通波矯直的操作。

采集

在進行手動、單線或光柵編碼掃查時，OmniScan SX可以方便地對檢測參數(shù)進行配置。采集數(shù)據(jù)可以用戶選擇的視圖形式實時顯示在屏幕上，用戶還可以將數(shù)據(jù)存儲于具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設(shè)備中。

智能布局

全屏模式，可更好地顯示缺陷

可以使用不同的閘門組合對同步和測量進行處理

數(shù)據(jù)分析和報告制作

數(shù)據(jù)光標、參考光標與測量光標用于缺陷的定量。

擴展的數(shù)據(jù)庫、預(yù)先定義的三角學(xué)參數(shù)列表、缺陷相對于軸的統(tǒng)計數(shù)據(jù)、體積位置信息、基于規(guī)范的合格標準、腐蝕成像的統(tǒng)計數(shù)據(jù)等等。

在進行離線閘門重新定位的操作中，視圖可被鏈接在一起，進行交互式分析和自動更新。

優(yōu)化的預(yù)置布局可對缺陷的長度、深度和高度進行快速方便的定量。無論您想在計算機中完成數(shù)據(jù)分析，還是希望您的OmniScan儀器采集完數(shù)據(jù)后繼續(xù)在現(xiàn)場進行數(shù)據(jù)分析，OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan

奧林巴斯超聲波探傷儀探頭 A5015

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